摘要：其中可以利用光功率计、偏振分析仪及光电探头等常规仪器，无需单光子探测器的参与及复杂的测量过程和数据处理，即可直接测量出时分复用光路中各路径的插损；同时，借助本发明，在面对不同待测光路时，无需更改仪器配置，可以适应具有不同延时差的光路。因此，借助本发明可以借助简还有呢？
...其中可以利用光功率计、偏振分析仪及光电探头等常规仪器，无需单光子探测器的参与及复杂的测量过程和数据处理，即可直接测量出时分复用光路中各路径的插损；同时，借助本发明，在面对不同待测光路时，无需更改仪器配置，可以适应具有不同延时差的光路。因此，借助本发明可以借助简还有呢？
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