摘要：
射线光电子能谱分析xpsxrayphotoelectronspectroscopy测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量而eds不能测价态且测试的深度为几十纳米到几微米基本上只能定性分析不好做定量分析表面的......
射线光电子能谱分析xpsxrayphotoelectronspectroscopy测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量而eds不能测价态且测试的深度为几十纳米到几微米基本上只能定性分析不好做定量分析表面的
其实eds和xps都不能准确测定元素的含量，xrf，aas等能准确测定元素含量，但要是表面吸附的话eds能准确
qi shi e d s he x p s dou bu neng zhun que ce ding yuan su de han liang ， x r f ， a a s deng neng zhun que ce ding yuan su han liang ， dan yao shi biao mian xi fu de hua e d s neng zhun que . . .
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UPS设备与XPS设备使用的激发光源不同,但仪器结构,原理有较多相似之处。 应用: 1、UPS用的是紫外光激发样品表面,从而使得样品表面出射光电子,价电子一般参与化学成键作用,因此UPS是
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1)XPS检测信号来源于样品表面数纳米的深度;SEM-EDS信号来源于样品表面数百至微米级的深度,对于纳米粒子,可以认为这个深度已经包含整个颗粒。 2)XPS检测信号来源于样品表面毫
一、能谱定量不准确的原因 能谱（EDS）结合扫描电镜使用，能进行材料微区元素种类与含量的分析。其工作
xpseds区别nanowang射线分析手段 关于XPS和EDS的区别作者:na**wang提交日期:2005-12-1410:41:00这两种都是比较经典的材料分析手段,看到BBs上一些不是特别清楚,
0) XPS 的物理原理是光电效应 EDS 的物理原理可称为电光效应 广义上说 二者是逆过 程 1 XPS 的入射源是 X 射线 其对样品的破坏性较低;EDS 的入射源是电子 对样
b. EDS与XPS的不同点: 1)基本原理不一样: 简单来说,XPS是用X射线打出电子,检测的是电子;EDS则是用电子打出X射线,检测的是X射线。 2) EDS只能检测元素的组成与含
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楼上几位已经答的很清楚了，我来补充一个细节。EDS进行定量成分分析时，必须进行校正，其中对试样的校正
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